INSPEKSI STRUKTUR KAPASITOR ELEKTROLIT MENGGUNAKAN MIKRO-TOMOGRAFI KOMPUTER SINAR-X

IDA BAGUS GEDE PUTRA PRATAMA, Drs. Gede Bayu Suparta, M.S., Ph.D.

2014 | Skripsi | FISIKA

Telah dilakukan penelitian uji inspeksi struktur kapasitor elektrolit menggunakan Mikro-Tomografi Komputer (Mikro-TK) sinar-x. Tujuannya adalah mengkaji kemampuan sistem Mikro-TK sinar-x yang dibangun di Jurusan Fisika FMIPA UGM. Untuk itu detail citra hasil rekonstruksi tomografi dibandingkan dengan struktur fisik objek kapasitor. Pengujian dilakukan terhadap tiga buah kapasitor elektrolit yaitu satu kapasitor dalam kondisi baik (C1) dan dua kapasitor dalam kondisi rusak. Kapasitor dalam kondisi rusak diakibatkan oleh kebocoran pada tabung pembungkus kapasitor (C2) dan kesalahan operasional pemberian muatan listrik secara berlebihan (C3). Analisis citra struktur kapasitor dilakukan berdasarkan profil serapan radiasi, distribusi nilai koefisien atenuasi linear (mu), kerapatan serta dimensi kapasitor. Hasil penelitian menunjukkan bahwa kapasitor dalam kondisi baik mempunyai nilai serapan radiasi yang lebih tinggi dan cenderung stabil di seluruh bagian inti, dibandingkan dengan kapasitor yang berada dalam kondisi rusak. Dengan analisis profil, diperoleh adanya perbedaan profil serapan radiasi pada kapasitor C2 dan C3 dengan kapasitor C1 sebagai referensi. Sistem Mikro-TK sinar-x yang dibangun belum mampu membedakan struktur gulungan pelat aluminium dan kertas elektrolit pada inti kapasitor, dimana kertas elektrolit yang basah dan menempel lekat pada pelat aluminium.

Research of structure inspection test on electrolytic capacitor using X-Ray Micro-Computed Tomography (Micro-CT) has been done. The purpose to review capability of X-Ray Micro-CT system that were built in Department of Physics, Faculty of Mathematics and Natural Sciences. Therefore, detail of reconstructed tomography image has been compared to the physical structure of the object capacitor. The testing was done on three electrolytic capacitors, that is a capacitor in good condition (C1) and two capacitors in damaged condition. Damaged capacitors caused by leakage in capacitor wrapper tube (C2) and operational error in distribute of electric charge (C3). Image analysis of capacitor structure has been done based on radiation absorption profile, distribute of linear attenuation coefficient (mu), density and dimension of the capacitor. The result showed that capacitor in a good condition has higher value of radiation absorption and tend to be stable throughout the capacitor core than capacitor in damaged condition. The profile analysis obtained difference in radiation absorption profile on capacitor C2 and C3 with capacitor C1 as the reference. X-Ray Micro-CT system that were built not yet capable to distinguish scroll of aluminum plate and electrolyte paper in structure of capacitor core, where the electrolyte paper was soaked and attached to the aluminum plate.

Kata Kunci : Mikro-tomografi komputer, sinar-x, serapan radiasi, kapasitor elektrolit