KAJIAN EKSPERIMENTAL LAPISAN TIPIS PbS MELALUI PENGUKURAN KONDUKTIVITAS SEBAGAI FUNGSI SUHU EXPERIMENTAL STUDY ON PbS; THIN FILMS USING TEMPERATURE-DEPENDENT CONDUCTIVITY MEASUREMENT

Trie Agustina, KAMSUL ABRAHA

2011 | Skripsi | PROGRAM STUDI S1 ILMU FISIKA

Telah diteliti karakteristik konduktivitas listrik pada sampel PbS (Lead Sulfide) yang dibuat dalam bentuk lapisan tipis (thin film) dengan kemurnian 99%. Karakterisasi konduktivitas listrik dilakukan dengan metode I-V yaitu arus-tegangan lapisan tipis diukur menggunakan I-V meter pada sampel yang telah di annealing pada suhu 303 K, 308 K dan 313 K. Arus lapisan tipis meningkat ketika tegangan dan suhu naik. Karakterisasi X-Ray Diffraction (XRD) digunakan untuk mengetahui struktrur mikroskopis lapisan tipis PbS yang telah di annealing. Proses ini dapat membantu proses penumbuhan kristal yang ditunjukkan dengan adanya bidang-bidang hkl yang semakin banyak terdeteksi. Hasil karakterisasi listrik ini menunjukkan bahwa konduktivitas semikonduktor PbS berbanding terbalik dengan resistansi. Semakin besar tegangan yang diberikan semakin kecil energi aktivasi lapisan tipis PbS.

Kata Kunci : Konduktivitas, PbS, lapisan tipis