INSPEKSI STRUKTUR KAPASITOR ELEKTROLIT MENGGUNAKAN MIKRO-TOMOGRAFI KOMPUTER SINAR-X; STRUCTURE INSPECTION ON ELECTROLYTIC CAPACITORS USING X-RAY MICRO-COMPUTED TOMOGRAPHY

Ida Bagus Gede Putra Pratama, Gede Bayu Suparta

2014 | Skripsi | PROGRAM STUDI FISIKA

Telah dilakukan penelitian uji inspeksi struktur kapasitor elektrolit menggunakan Mikro-Tomografi Komputer (Mikro-TK) sinar-x. Tujuannya adalah mengkaji kemampuan sistem Mikro-TK sinar-x yang dibangun di Jurusan Fisika FMIPA UGM. Untuk itu, detail citra hasil rekonstruksi tomografi dibandingkan dengan struktur fisik objek kapasitor. Pengujian dilakukan terhadap tiga buah kapasitor elektrolit yaitu satu kapasitor dalam kondisi baik (C1) dan dua kapasitor dalam kondisi rusak. Kapasitor dalam kondisi rusak diakibatkan oleh kebocoran pada tabung pembungkus kapasitor (C2) dan kesalahan operasional pemberian muatan listrik secara berlebihan (C3). Analisis citra struktur kapasitor dilakukan berdasarkan profil serapan radiasi, distribusi nilai koefisien atenuasi linear (?), kerapatan serta dimensi kapasitor. Hasil penelitian menunjukkan bahwa kapasitor dalam kondisi baik mempunyai nilai serapan radiasi yang lebih tinggi dan cenderung stabil di seluruh bagian inti, dibandingkan dengan kapasitor yang berada dalam kondisi rusak. Dengan analisis profil, diperoleh adanya perbedaan profil serapan radiasi pada kapasitor C2 dan C3 dengan kapasitor C1 sebagai referensi. Sistem Mikro-TK sinar-x yang dibangun belum mampu membedakan struktur gulungan pelat aluminium dan kertas elektrolit pada inti kapasitor, dimana kertas elektrolit yang basah dan menempel lekat pada pelat aluminium.

Kata Kunci : mikro-tomografi komputer, sinar-x, serapan radiasi, kapasitor elektrolit